涂镀层测厚仪是采用单片机技术研制的一种精度高、功耗低、体积小、重量轻、操作方便的测量仪器。采用数字显示,示值稳定,无校正旋钮,单探头全量程测量具有存贮、读出、统计、低电压指示等功能,性能达到国际同类产品先进水平。
本仪器采用磁性测厚法,可以方便无损的测量铁磁材料上非磁性涂层的厚度
型号 性能指标 |
XEM-Ⅰ |
XEM-Ⅱ |
XEM-Ⅲ |
XEM-Ⅳ |
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测量范围(μm) |
0—5000 |
0—450.0 |
50—10000 |
0—3000 |
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测量误差 |
<3%+1μm |
<3%+0.5μm |
<3%+10μm |
<3%+1μm |
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最小示值 |
1μm |
0.1μm |
10μm |
1μm |
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适用范围 |
油漆、橡塑、搪瓷等涂层 |
电镀、油漆等要求精度较高涂层 |
沥青、喷塑、橡胶等涂层 |
油漆、橡塑、搪瓷等涂层 |
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主 要 功能 |
显示方式 |
7位液晶数字显示 |
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测 量 |
单探头全量程程测量 |
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存 贮 |
可存入测量数据800个 |
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读 |
读出已存入测量数据 |
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统 计 |
显示已存数的最小值、均值、最大值 |
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电 源 |
5#干电池3节 |
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功 耗 |
最大功耗100mw |
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外形尺寸 |
134×72×31mm |
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重 量 |
150g |
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使用环境 |
温度:-10℃~+40 相对湿度:不大于90% |
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备注:可配检测管道内防腐层的伸缩式长柄探头(1米左右) |